製品紹介

内径外観検査装置

型式:MAC-754

ワーク内面の目視検査の合理化・省力化を実現し、高精度検査による製品品質を格段に向上させました。

検査装置例

検査装置例

特徴

  • KIRIN製ジャイロスキャンを用い高精度の内面検査を確実とします。
  • 条件により、最小Φ0.1mm程度の検出が可能です。
  • 高い再現性で自動検査を行ないます。
  • 部位ごとに判定基準を設定可能です。
  • ワークに応じた装置(メカ・制御)を設計・製作します。
  • 外径外観検査装置と組合せ、内外面の検査が可能となります。
ジャイロスキン本体

ジャイロスキャン本体

主要諸元

品名 内径外観検査装置
型式 MAC-754
計測可能項目  外観
(キズ・巣・汚れ・異物・バリなど)
対象ワーク内径  Φ6mm~Φ120mm
最大検査長さ  200mm
(対象ワーク内径によって異なります。)
最小検出サイズ  Φ0.1mm程度
(検査面の状態によって異なります。高機能タイプでの検出能力です。)
最小画素分解能  25μm×25μm/pix
(ワーク内径、検査長によって異なります。)
装置寸法・重量  装置により異なります
レーザークラス  クラス2
(保護具不要)
備考  画像保存機能・自己診断機能あり
 

レーザー撮像の原理

レーザーを金属内表面に垂直に当て、その正反射光の光量を画像に置き換えていきます。欠陥部分は光が散乱し、反射光が戻らなくなります。