リレーデバイスを対象とした、最大4端子による耐電圧・絶縁抵抗計測を行うテスト装置です。
特徴
- 耐電圧試験、絶縁抵抗試験が任意の組み合わせで実施できます。
- 最大4端子による複数条件の試験が一括で実施できます。
- 端子の切替や様々な計測条件の変更などを自動で行うため、試験時間を大幅に短縮できます。
主要諸元
品名 | 耐圧絶縁抵抗試験装置 |
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型式 | MAC-732 |
測定端子数 | 同時計測端子4(Hi/Low/Close選択可) |
試験内容 | 耐電圧計測・絶縁抵抗計測 |
耐震圧計測緒元 | 印加電圧DC10~5kV 漏れ電流計測範囲10μ~10mA |
絶縁抵抗計測緒元 | 印加電圧DC10~5kV 抵抗計測範囲10k~9.9GΩ |